W-01

事例

半導体製造装置

ウエハーチャック φ300 平面度10μm→3μm

ウエハーチャック φ300 平面度10μm→3μm

イメージ(見本)

材質

A5052

大きさ

φ300×20mm

数量

試作5個 → 月20個

課題

吸着溝の多い薄い円板で、削ると反り、平面度が10μmを超えていました。

加工の工夫

荒加工のあと一晩置いて残留応力を抜き、恒温室の隣で仕上げました。固定治具も、この部品のために作り直しました。

結果

平面度は3μmに入り、試作5個のあと、毎月20個の注文になりました(見本)。

数字で見る

項目前後
平面度10μm超3μm
注文試作だけ月20個

納めるときに付ける検査成績書(抜粋)

図面の寸法ごとに、全数の測定値を並べます。良い値だけを選んで載せることはしません。

検査成績書の抜粋。測定項目ごとに図面寸法・公差・5個の測定値・判定が並ぶ(見本)

事例・数字・写真・成績書はすべて見本です。